真理光學技術團隊具有超過二十年粒度表征及應用開發(fā)的經驗，曾研發(fā)出中國第一臺商用激光粒度分析儀。LT3600系列和LT2200系列是真理光學基于多年的科研成果并融合多項專利技術開發(fā)的新一代超高速智能激光粒度分析系統(tǒng)，為全球激光粒度分析行業(yè)樹立了新標桿。LT3600系列和LT2200系列粒度儀被廣泛用于磨料，制藥，化工，電池材料，地質，水文等行業(yè)的顆粒粒度表征分析。
針對電池材料行業(yè)用戶的電池材料粒度粒形檢測需求，真理光學開發(fā)的新一代LT系列激光粒度儀加持了如下技術研究成果：
（1）發(fā)現愛里斑的反常變化（ACAD）規(guī)律及其對粒度測量的影響，解決了ACAD現象對光能數據反演的干擾。
（2）獨創(chuàng)的偏振空間濾波技術
（3）斜置梯形窗口技術。
（4）統(tǒng)一的散射光能反演算法，免除了用戶必須選擇反演模式，而不同模式有不同結果的困擾。
（5）分散系統(tǒng)雙電機驅動及液位連續(xù)監(jiān)控。
為電池材料粒度粒形測試提供可靠保證和穩(wěn)定數據支撐。
