納米粒度儀采用動(dòng)態(tài)光散射原理，通過高靈敏度的光子計(jì)數(shù)器PMT實(shí)時(shí)接收納動(dòng)態(tài)光散射信號(hào)，通過具高性能的自相關(guān)器對(duì)信號(hào)進(jìn)行甄別和處理，再通過準(zhǔn)確反演計(jì)算就得到了納米顆粒的粒度分布。
納米粒度儀的主要性能特點(diǎn)：
先進(jìn)的測(cè)試原理，采用動(dòng)態(tài)光散射原理，其測(cè)試方法具有不破壞、不干擾納米顆粒體系原有狀態(tài)的特點(diǎn)，從而保證了測(cè)試結(jié)果的真實(shí)性和有效性；
高靈敏度與信噪比核心部件采用數(shù)字相關(guān)器，它實(shí)時(shí)完成動(dòng)態(tài)散射光強(qiáng)的采集和自相關(guān)函數(shù)運(yùn)算，從而有效地反映不同大小顆粒的動(dòng)態(tài)光散射信息，為測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確度奠定基礎(chǔ)；
穩(wěn)定的光路系統(tǒng)采用光纖技術(shù)搭建而成的光路系統(tǒng)，使光子相關(guān)譜探測(cè)系統(tǒng)不僅體積小，而且具有很強(qiáng)的抗干擾能力，從而保證了測(cè)試的穩(wěn)定性；
高精度恒溫控制系統(tǒng)采用半導(dǎo)體溫控技術(shù)，溫控精度高達(dá)±0。2℃，使樣品在整個(gè)測(cè)試過程中始終處于恒溫狀態(tài)，避免溫度變化而引起液體黏度及布朗運(yùn)動(dòng)速度變化導(dǎo)致的測(cè)試偏差，保證測(cè)試結(jié)果準(zhǔn)確度及穩(wěn)定性。
納米粒度儀要如何測(cè)定等電點(diǎn)你知道嗎？
等電點(diǎn)，是zeta電位測(cè)定時(shí)的一個(gè)名詞，正確解釋應(yīng)為當(dāng)zeta電位為0時(shí)當(dāng)前膠體體系的PH值，而非PH值為7時(shí)，當(dāng)前膠體體系的ZETA電位，這點(diǎn)一定要注意。
當(dāng)你只購(gòu)買了標(biāo)準(zhǔn)配置的主機(jī)時(shí)，也可以通過手動(dòng)方法測(cè)定等電點(diǎn)：
?。?）準(zhǔn)備好當(dāng)前膠體體系樣品，先通過其它設(shè)備（PH計(jì)）測(cè)定當(dāng)前樣品PH值，建議重復(fù)三次以上并取平均值；
（2）在主機(jī)中測(cè)定當(dāng)前樣品的zeta電位值，建議重復(fù)三次以上并取平均值；
?。?）根據(jù)原始樣品的zeta電位值的正負(fù)±，建議選用鹽酸和氫氧化鈉溶液開始相應(yīng)方向的滴定，如果初始zeta電位值為正，則用氫氧化鈉溶液滴定（反之亦然）；
?。?）每次滴定后，重新測(cè)定該樣品的zeta電位值（循環(huán)往復(fù)這個(gè)步驟）；
?。?）以橫坐標(biāo)為PH值，縱坐標(biāo)為zeta電位值作圖，在圖上標(biāo)出每個(gè)階段樣品的數(shù)值并連線（滴定間隔點(diǎn)越小越好）；
?。?）在標(biāo)出樣品zeta電位為0前后位置的點(diǎn)后，將這兩點(diǎn)連線，延長(zhǎng)縱坐標(biāo)zeta電位為0mV的連線，與曲線的交點(diǎn)，其對(duì)應(yīng)的橫坐標(biāo)就是該樣品的等電點(diǎn)。
